МФМ
Механика и физика материалов Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
ru Русский
Версия для слабовидящих
Издается с 2000
ISSN 1605-8119
Автор J.G. Hou
Подать статью
Последние выпуски
J.G. Hou
  • Место работы
    University of Science and Technology of China
  • China

Characterization and Manipulation of Nanostructures by a Scanning Tunneling Microscope

B. Li C. Zeng B. Wang H. Wang J.G. Hou
  • Год: 2001
  • Том: 4
  • Выпуск: 1
  • 1
  • 1087
  • Страницы: 29-33

Сообщить автору об опечатке:

Адрес страницы с ошибкой:

Текст с ошибкой:

Ваш комментарий или корректная версия: