МФМ
Механика и физика материалов Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
ru Русский
Версия для слабовидящих
Издается с 2000
ISSN 1605-8119
Автор Svetlana V. Shtelmah
Подать статью
Последние выпуски
Svetlana V. Shtelmah
  • Место работы
    Giricond, JSC
  • St.Petersburg, Russia

Use of X-ray analysis for conducting input and process control of electronics materials

Matvienko A.N. Sergey P. Teslenko Svetlana V. Shtelmah
  • Год: 2019
  • Том: 41
  • Выпуск: 1
  • 6
  • 1236
  • Страницы: 84-87

Сообщить автору об опечатке:

Адрес страницы с ошибкой:

Текст с ошибкой:

Ваш комментарий или корректная версия: