МФМ
Механика и физика материалов Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
ru Русский
Версия для слабовидящих
Издается с 2000
ISSN 1605-8119
Автор K.N. Rothod
Подать статью
Последние выпуски
K.N. Rothod
  • Место работы
    Dayanand Science College
  • India

Comparative study of structural, morphological and optical characterization of CdS, CdAlS and CdAlS annealed thin films

L.S. Ravangave S.D. Misal U.V. Biradar K.N. Rothod
  • Год: 2012
  • Том: 14
  • Выпуск: 2
  • 1
  • 1048
  • Страницы: 129-136

Сообщить автору об опечатке:

Адрес страницы с ошибкой:

Текст с ошибкой:

Ваш комментарий или корректная версия: