МФМ
Механика и физика материалов Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Издается с 2000
ISSN 1605-8119
ru Русский
Версия для слабовидящих
Автор Rothod
Подать статью
Последние выпуски
Rothod
Rothod
Место работы
Dayanand Science College
India

Comparative study of structural, morphological and optical characterization of CdS, CdAlS and CdAlS annealed thin films

L.S. Ravangave S.D. Misal U.V. Biradar K.N. Rothod
  • Год: 2012
  • Том: 14
  • Выпуск: 2
  • 2
  • 1814
  • Страницы: 129-136