МФМ
Механика и физика материалов Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Издается с 2000
ISSN 1605-8119
ru Русский
Версия для слабовидящих
Подать статью

Статьи по ключевому слову "technological control"

Use of X-ray analysis for conducting input and process control of electronics materials

Matvienko A.N. Sergey P. Teslenko Svetlana V. Shtelmah
  • Год: 2019
  • Том: 41
  • Выпуск: 1
  • 5
  • 883
  • Страницы: 84-87