V.M. Ievlev
  • Место работы
    The Voronezh State Technical University
  • Voronezh, Russia

On the Nature of Layer Substructure of Doped Silicon Films

  • Год: 2004
  • Том: 7
  • Выпуск: 1
  • 1
  • 1100
  • Страницы: 67-71

Сообщить автору об опечатке:

Адрес страницы с ошибкой:

Текст с ошибкой:

Ваш комментарий или корректная версия: