Последние выпуски
- 2026, Том 54 Выпуск 2
- 2026, Том 54 Выпуск 1
- 2025, Том 53 Выпуск 6
- 2025, Том 53 Выпуск 5
Vyas S.M.
Место работы
Gujarat University
Ahmedabad, India
Temperature-dependent dielectric behaviour and XRD analysis of Bi2Te2.8Se0.2
- Год: 2026
- Том: 54
- Выпуск: 2
- 6
- 44
- Страницы: 101-110