Последние выпуски
- 2026,Том 54Выпуск 4
- 2026,Том 54Выпуск 3
- 2026,Том 54Выпуск 2
- 2026,Том 54Выпуск 1
Vyas S.M.
Место работы
Gujarat University
Ahmedabad, India
Temperature-dependent dielectric behaviour and XRD analysis of Bi2Te2.8Se0.2
- Год: 2026
- Том: 54
- Выпуск: 2
- 44
- 814
- Страницы: 101-110