МФМ
Механика и физика материалов Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Издается с 2000
ISSN 1605-8119
ru Русский
Версия для слабовидящих
  • cover_2
Interface Controlled Materials. Pt.1
Год: 2000
Том: 1
Выпуск: 2
Страниц: 79
56
24343
Предыдущий выпуск Архив выпусков Следующий выпуск
Подать статью
XML
Последние выпуски

Nucleation and Growth of Twin Interfaces in FCC Metals and Alloys

C.S. Pande
  • 14
  • 2860
  • Страницы: 61-66

Mechanical and Magnetic Properties of Polyol Electrodeposited NiCo Films

G.M. Chow
  • 3
  • 2535
  • Страницы: 67-65

Hot Wire CVD of Heterogeneous and Polycrystalline Silicon Semiconducting Thin Films for Applications in Thin Film Transistors and Solar Cells

  • 9
  • 2734
  • Страницы: 73-82

InOx Thin Films, Candidates for Novel Chemical and Optoelectronic Applications

G. Kiriakidis N. Katsarakis M. Bender
  • 3
  • 2504
  • Страницы: 83-97

Superplasticity and microstructure evolution in nanonickel

A.P. Zhilyaev
  • 5
  • 2293
  • Страницы: 98-102

Effects of Transformations of Grain Boundary Defects on Diffusion in Nanocrystalline Materials

И.А. Овидько A.B. Reizis R.A. Masumura
  • 3
  • 2287
  • Страницы: 103-101

On the Theory of Island Films Growth from Eutectic Melt at the Late Evolution Stage

Кукушкин С.А.
  • 3
  • 2482
  • Страницы: 111-118

High Pressure — High Temperature Treatment to Create Oxygen Nano-Clusters and Defects in Single Crystalline Silicon

A. Misiuk
  • 3
  • 2262
  • Страницы: 119-126

High-Strength Nanocrystalline Ni-W Alloys Produced by Electrodeposition

  • 7
  • 2238
  • Страницы: 127-132

A Disclination-based Model for Anisotropic Substructure Development and its Impact on the Critical Resolved Shear Stresses

P.
  • 6
  • 2148
  • Страницы: 133-139