МФМ
    Механика и физика материаловСанкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
    Издается с 2000
    ISSN 1605-8119
    ruРусский
    Версия для слабовидящих
    • cover_2
    Interface Controlled Materials. Pt.1
    Год: 2000
    Том: 1
    Выпуск: 2
    Страниц: 79
    58
    26382
    Предыдущий выпускАрхив выпусковСледующий выпуск
    Подать статью
    XML JATS
    Последние выпуски

    Nucleation and Growth of Twin Interfaces in FCC Metals and Alloys

    C.S. Pande
    • 15
    • 3091
    • Страницы: 61-66

    Mechanical and Magnetic Properties of Polyol Electrodeposited NiCo Films

    G.M. Chow
    • 3
    • 2751
    • Страницы: 67-65

    Hot Wire CVD of Heterogeneous and Polycrystalline Silicon Semiconducting Thin Films for Applications in Thin Film Transistors and Solar Cells

    • 10
    • 2956
    • Страницы: 73-82

    InOx Thin Films, Candidates for Novel Chemical and Optoelectronic Applications

    G. KiriakidisN. KatsarakisM. Bender
    • 3
    • 2711
    • Страницы: 83-97

    Superplasticity and microstructure evolution in nanonickel

    A.P. Zhilyaev
    • 5
    • 2489
    • Страницы: 98-102

    Effects of Transformations of Grain Boundary Defects on Diffusion in Nanocrystalline Materials

    И.А. ОвидькоA.B. ReizisR.A. Masumura
    • 3
    • 2500
    • Страницы: 103-101

    On the Theory of Island Films Growth from Eutectic Melt at the Late Evolution Stage

    Кукушкин С.А.
    • 3
    • 2677
    • Страницы: 111-118

    High Pressure — High Temperature Treatment to Create Oxygen Nano-Clusters and Defects in Single Crystalline Silicon

    A. Misiuk
    • 3
    • 2450
    • Страницы: 119-126

    High-Strength Nanocrystalline Ni-W Alloys Produced by Electrodeposition

    • 7
    • 2429
    • Страницы: 127-132

    A Disclination-based Model for Anisotropic Substructure Development and its Impact on the Critical Resolved Shear Stresses

    P.
    • 6
    • 2328
    • Страницы: 133-139