Zarichny
Zarichny
Место работы
Ioffe Institute
Saint Petersburg, Russia

The analysis of the etch pits parameters in the (-201) plane of the β-Ga2O3 substrate crystals

  • Год: 2023
  • Том: 51
  • Выпуск: 3
  • 38
  • 1441
  • Страницы: 46-51