МФМ
    Механика и физика материаловСанкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
    Издается с 2000
    ISSN 1605-8119
    ruРусский
    • enАнглийский
    Версия для слабовидящих
    • О журнале
      • Меню
      • О журнале
      • Редакционная коллегия
      • Показатели
    • Авторам
      • Меню
      • Название статьи
      • Аннотация к статье
      • Ключевые слова
      • Содержание и структура статьи
      • Технические требования
      • Список литературы
      • Подача и рассмотрение статьи
      • Рецензирование
      • Работа с электронной редакцией
    • Рецензентам
      • Меню
      • Порядок рецензирования
      • Работа с электронной редакцией
    • Этика научных публикаций
    • Политика использования ИИ
    • Архив выпусков
    • Новости
    • Контакты
    АвторRedkov
    Подать статью
    Последние выпуски
    • 2026,Том 54Выпуск 2
    • 2026,Том 54Выпуск 1
    • 2025,Том 53Выпуск 6
    • 2025,Том 53Выпуск 5
    Redkov
    Redkov
    Место работы
    Institute of Problems of Mechanical Engineering of Russian Academy of Sciences
    St.Petersburg, Russia

    Evolution of crystal morphology under flow of low-energy particles: vacancy mechanism

    A.V. RedkovА.В. ОсиповКукушкин С.А.
    • Год: 2016
    • Том: 29
    • Выпуск: 1
    • 4
    • 2753
    • Страницы: 82-92

    Nucleation and growth mechanisms of CdTe thin films on silicon substrates with silicon carbide buffer layers

    A.A. KoryakinКукушкин С.А.A.V. Redkov
    • Год: 2017
    • Том: 32
    • Выпуск: 3
    • 6
    • 2766
    • Страницы: 262-271

    Growth of SiC films by the method of substitution of atoms on porous Si (100) and (111) substrates

    V.V. KidalovКукушкин С.А.А.В. ОсиповA.V. RedkovА.С. ГращенкоI.P. SoshnikovM.E. BoikoM.D. SharkovA.F. Dyadenchuk
    • Год: 2018
    • Том: 36
    • Выпуск: 1
    • 50
    • 3819
    • Страницы: 39-52

    Polycrystalline films of phosphors Cd (1-x-y-z) (CuyAgz) ZnxS on the silicon substrate with the silicon carbide buffer layer: structure and properties

    N.M. SergeevaS.P. BogdanovA.V. Redkov
    • Год: 2019
    • Том: 42
    • Выпуск: 4
    • 7
    • 2948
    • Страницы: 396-406
    Механика и физика материалов
    Персональные данные распространяются с согласия субъектов персональных данных
    Адрес
    Политехническая ул. 29
    Контакты
    decodeDefault
    Политика обработки «cookie» Политика конфиденциальности
    🍪
    Мы используем cookies и рекомендательные технологии для улучшения работы сайта. Продолжая использовать этот сайт, Вы соглашаетесь на использование файлов cookie .