Смирнов А.М.
Смирнов А.М.
Место работы
Университет ИТМО
Санкт-Петербург, Россия

Сравнение характеристик диодов Шоттки на основе β-Ga2O3 и других широкозонных полупроводниковых материалов

  • Год: 2015
  • Том: 24
  • Выпуск: 2
  • 39
  • 3552
  • Страницы: 194-200

Axial misfit stress relaxation in core-shell nanowires with hexagonal core via nucleation of rectangular prismatic dislocation loops

  • Год: 2019
  • Том: 42
  • Выпуск: 6
  • 8
  • 3298
  • Страницы: 776-783

Pair interaction of coaxial circular prismatic dislocation loops in elastic solids with spherical surfaces

  • Год: 2020
  • Том: 44
  • Выпуск: 1
  • 19
  • 3332
  • Страницы: 116-124

Growth of thick gallium oxide on the various substrates by halide vapor phase epitaxy

  • Год: 2020
  • Том: 44
  • Выпуск: 2
  • 68
  • 4072
  • Страницы: 164-171

Molecular dynamics modeling of the mechanical behavior of YSZ-ceramics/graphene nanocomposite

  • Год: 2021
  • Том: 47
  • Выпуск: 6
  • 41
  • 3013
  • Страницы: 856-863

The void evolution kinetics driven by residual stress in icosahedral particles

  • Год: 2022
  • Том: 50
  • Выпуск: 3
  • 36
  • 2609
  • Страницы: 401-409

Disclination models in the analysis of stored energy in icosahedral small particles

  • Год: 2023
  • Том: 51
  • Выпуск: 6
  • 41
  • 2370
  • Страницы: 76-83

A kinetic model of the stress-induced void evolution in pentagonal whiskers and rods

  • Год: 2023
  • Том: 51
  • Выпуск: 7
  • 57
  • 2528
  • Страницы: 22-33

Micromechanics of misfit stress relaxation in heterogeneous crystalline nanostructures: a review

  • Год: 2025
  • Том: 53
  • Выпуск: 5
  • 52
  • 1180
  • Страницы: 1-34