МФМ
    Механика и физика материаловСанкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
    Издается с 2000
    ISSN 1605-8119
    ruРусский
    • enАнглийский
    Версия для слабовидящих
    • О журнале
      • Меню
      • О журнале
      • Редакционная коллегия
      • Показатели
    • Авторам
      • Меню
      • Название статьи
      • Аннотация к статье
      • Ключевые слова
      • Содержание и структура статьи
      • Технические требования
      • Список литературы
      • Подача и рассмотрение статьи
      • Рецензирование
      • Работа с электронной редакцией
    • Рецензентам
      • Меню
      • Порядок рецензирования
      • Работа с электронной редакцией
    • Этика научных публикаций
    • Политика использования ИИ
    • Архив выпусков
    • Новости
    • Контакты
    АвторS.N. Rodin
    Подать статью
    Последние выпуски
    • 2026,Том 54Выпуск 2
    • 2026,Том 54Выпуск 1
    • 2025,Том 53Выпуск 6
    • 2025,Том 53Выпуск 5
    S.N. Rodin
    S.N. Rodin
    Место работы
    Ioffe Institute
    St.Petersburg, Russia

    Semipolar GaN on Si (001): the role of SiC buffer layer synthesized by method of substrate atom substitution

    V.N. BessolovE.V. KonenkovaКукушкин С.А.A.V. MyasoedovS.N. RodinА.В. ОсиповM.P. Shcheglov
    • Год: 2014
    • Том: 21
    • Выпуск: 1
    • 7
    • 2492
    • Страницы: 71-77

    The mechanism of formation of structural V-defects in polar and semipolar epitaxial GaN films synthesized on SiC/Si (111) and SiC/Si (100) heterostructures

    V.N. BessolovE.V. KonenkovaA.V. ZubkovaА.В. ОсиповОрлова Т.С. S.N. RodinКукушкин С.А.
    • Год: 2014
    • Том: 21
    • Выпуск: 3
    • 9
    • 2775
    • Страницы: 266-274
    Механика и физика материалов
    Персональные данные распространяются с согласия субъектов персональных данных
    Адрес
    Политехническая ул. 29
    Контакты
    decodeDefault
    Политика обработки «cookie» Политика конфиденциальности
    🍪
    Мы используем cookies и рекомендательные технологии для улучшения работы сайта. Продолжая использовать этот сайт, Вы соглашаетесь на использование файлов cookie .